Ruwheids-, contour-
en meting van golving
van HOMMEL-Etamic en JENOPTIK
Bij de kleinste radii, afschuiningen, contouren en ruwheidsdiepten bereiken conventionele meetinstrumenten hun grenzen. Voor deze toepassingen zetten wij meetinstrumenten van JENOPTIK in.
Naast het precisie-ruwheidsmeetinstrument W10 beschikken wij ook over het contourmeetinstrument W800 met krachtige analysesoftware. Voor rotatiesymmetrische componenten zetten wij Opticline in voor de meting van golving.
Ons machinepark
JENOPTIK RUWHEIDSMEETINSTRUMENT W10
Meetinstrument met glijschoen
Ruwheidsparameters: Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, RSm, Rc, Rp, Rv, Rsk, Rku, Rdc
Meetbereik: ± 160 µm
Resolutie: 6 nm
Software: EVOVIS
Mobiele ruwheidsmeettechniek: het meetinstrument Waveline W10 is bij uitstek geschikt voor mobiele ruwheidsmetingen, voor de controle van de oppervlaktekwaliteit van uw werkstukken direct in de productie. Dit systeem werkt zowel bij dwarse aftasting als bovenhands en verticaal: betrouwbaar en nauwkeurig. De geïntegreerde thermische printer documenteert meetresultaten direct zwart op wit.
JENOPTIK CONTOURMEETINSTRUMENT W800
Voorschuiflengte: 120 mm
Meetbereik: ± 400 µm
Resolutie: 10 nm
Software: EVOVIS
JENOPTIK OPTISCH SCHACHTMEETSYSTEEM OPTICLINE CS 614
Max. diameter: 140 mm
Max. lengte: 600 mm
Nauwkeurigheid diameter: 2,0 + D/100 µm
Nauwkeurigheid lengte: 5,0 + D/100 µm
Software: TOLARIS Optic
Toepassingsvoorbeelden
